Capacités de test, de mesure et d’inspection

Tests de capteurs

Tests et étalonnage de capteur inertiel

Simulateurs de déplacement

Tests de capteur standards

Profilométrie de surface

Plateforme de mesure de surface (SMP

Solutions traditionnelles de profilométrie et de mesure

Tests non-destructifs

Inspection aux rayons X

Tests par ultrasons

Inspection et métrologie des semi-conducteurs

Mesure de film fin

Inspection de wafers

Microscopie à force atomique

Détection de défauts/balayage de particules

Caractérisation magnétique et électrique

Inspection de réticules

SEM, TEM, FIB

Systèmes pour salle blanche

Capacités pour salle blanche

Systèmes sous vide poussé

Applications sous vide

Plateforme de test rotative

Automatisation et acquisition de données intégrées

Solutions d’automatisation intégrées d’Aerotech

Commandes standards

Commandes avancées

Acquisition de données – Sensor Fusion

MotionPAC

Un grand éventail d’options de driver

Déplacement rotatif et linéaire

Solutions de déplacement rotatif

Solutions de déplacement linéaire

Platines XY à coussin d’air

Nano-positionneurs

Des composants aux solutions intégrées

Pourquoi être partenaire avec Aerotech

Systèmes customisés

Capacités dans d’autres marchés

Formation et support dans le monde

Prix et récompenses